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IC靜電放電測試之其它Pin位
日期：2024-10-19 08:11
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摘要：
IC靜電放電測試之其它Pin位
1、VDD-to-VSS的靜電放電測試
1、VDD-to-VSS的靜電放電測試
靜電放電也可能發(fā)生在VDD腳與VSS腳之間，因此對(duì)VDD腳與VSS腳有下列的ESD測試組合，其等效電路示意圖如下圖所示。
上圖 VDD-to-VSS 的靜電放電測試組合Positive-mode:正的ESD電壓出現(xiàn)在VDD腳，此時(shí)VSS腳接地， 但所有I/O 腳皆浮接；Negative-mode:負(fù)的ESD電壓出現(xiàn)在VDD腳，此時(shí)VSS腳接地， 但所有I/O 腳皆浮接。
2、Analog Pin的靜電放電測試
在類比(Analog) IC內(nèi)常有差動(dòng)輸入級(jí)(Differential Pair)，例如運(yùn)算放大器(OP AMP) 的輸入級(jí)，如果該差動(dòng)輸入級(jí)的正負(fù)輸入端都連接到IC的Pin時(shí)，這兩支輸入腳要另外單獨(dú)做靜電放電測試，以驗(yàn)證該兩支輸入腳所連接的差動(dòng)輸入級(jí)會(huì)不會(huì)被靜電放電所破壞，其等效電路示
上圖 VDD-to-VSS 的靜電放電測試組合Positive-mode:正的ESD電壓出現(xiàn)在VDD腳，此時(shí)VSS腳接地， 但所有I/O 腳皆浮接；Negative-mode:負(fù)的ESD電壓出現(xiàn)在VDD腳，此時(shí)VSS腳接地， 但所有I/O 腳皆浮接。
2、Analog Pin的靜電放電測試
在類比(Analog) IC內(nèi)常有差動(dòng)輸入級(jí)(Differential Pair)，例如運(yùn)算放大器(OP AMP) 的輸入級(jí)，如果該差動(dòng)輸入級(jí)的正負(fù)輸入端都連接到IC的Pin時(shí)，這兩支輸入腳要另外單獨(dú)做靜電放電測試，以驗(yàn)證該兩支輸入腳所連接的差動(dòng)輸入級(jí)會(huì)不會(huì)被靜電放電所破壞，其等效電路示
上圖 Analog Pin 的靜電放電測試組合
- Positive-mode:正的ESD電壓出現(xiàn)在差動(dòng)輸入級(jí)的正輸入腳位，此時(shí)差動(dòng)輸入級(jí)的負(fù)輸入腳接地， 但其他所有I/O 腳以及VDD與VSS腳皆浮接；
- Negative-mode:負(fù)的ESD電壓出現(xiàn)在差動(dòng)輸入級(jí)的正輸入腳位， 此時(shí)差動(dòng)輸入級(jí)的負(fù)輸入腳接地， 但其他所有I/O 腳以及VDD與VSS腳皆浮接。
