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不同的場(chǎng)合下超聲波探傷儀的操作流程說(shuō)明
日期：2024-09-20 12:07
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摘要：
不同的場(chǎng)合下超聲波探傷儀的操作流程說(shuō)明
焊縫探傷操作流程
一. 準(zhǔn)備工作
1 試塊：CSK-1A,CSK-3A
2 探頭線：Q9接口
3 探頭：斜探頭/K2/2.5p
二 設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)
1 開(kāi)機(jī)：按動(dòng)開(kāi)關(guān)，然后按【確認(rèn)】鍵
2 選擇通道:按【通道】鍵,按【+】、【-】鍵,選擇通道
3選擇標(biāo)準(zhǔn):按【通道】鍵,彈出主菜單后按【3】鍵,按【確認(rèn)】鍵,彈出標(biāo)準(zhǔn)選擇子菜單,按【數(shù)字】鍵,選擇相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn),若無(wú)標(biāo)準(zhǔn)可選,按【6】鍵,按【確認(rèn)】鍵,進(jìn)入自設(shè)置標(biāo)準(zhǔn),設(shè)置完畢按【返回】鍵,退回主菜單
4dac方式：在主菜單狀態(tài)下，按【+】鍵，按【確認(rèn)】鍵2次，按【+】、【-】鍵，可選擇“光滑或點(diǎn)接"，按【返回】鍵2次，退回探傷狀態(tài)
三. 調(diào)試
1 將探頭置于CSK-1A試塊上，掃描R50、R100半圓
2 調(diào)節(jié)聲程：按【聲程】鍵，按【+】、【-】鍵，使R50、R100反射波出現(xiàn)在屏幕上
3 調(diào)節(jié)增益：按【增益】鍵，按【+】、【-】鍵，將R50、R100反射波幅調(diào)至50%處
4 移動(dòng)探頭，使R50、R100反射波為*高
5 始波偏移測(cè)試：按【始偏】鍵，按【確認(rèn)】鍵，然后根據(jù)屏幕提示操作
6 聲速測(cè)試：按【聲速】鍵，按【確認(rèn)】鍵，然后根據(jù)屏幕提示操作
7K值測(cè)試：將試塊翻轉(zhuǎn)過(guò)來(lái)，掃描深度為15mm橫通孔，調(diào)節(jié)增益，使波幅達(dá)到50%以上（注意：不能調(diào)節(jié)聲程，聲程拉得太開(kāi)，可能造成測(cè)試錯(cuò)誤），按【K值】鍵，按【確認(rèn)】鍵，然后根據(jù)屏幕提示操作
四. dac曲線制作
1 標(biāo)度選擇：連按【標(biāo)度】鍵，使標(biāo)度為垂直（Y）
2 聲程調(diào)節(jié)：按【聲程】鍵，按【+】、【-】鍵，使聲程為50mm
3 將探頭置于CSK-3A試塊上，掃描10mm深橫通孔，使波幅*高，調(diào)節(jié)增益，使波幅在80%-90%之間
4 按【包絡(luò)】鍵，直至屏幕提示“包絡(luò)/波形"，按【確認(rèn)】鍵，波形凍結(jié)，按【-】鍵移動(dòng)光標(biāo)，按【+】鍵采集該點(diǎn)
5 移動(dòng)探頭，掃描30mm深橫通孔，使包絡(luò)波形*高，按【-】鍵移動(dòng)光標(biāo)，按【+】鍵采集該點(diǎn)
6 移動(dòng)探頭，掃描40mm深橫通孔，使包絡(luò)波形*高，按【-】鍵移動(dòng)光標(biāo)，按【+】鍵采集該點(diǎn)
7 所有點(diǎn)都采集完畢之后，按【確認(rèn)】鍵，完成曲線制作
8 按【定量】鍵，按【確認(rèn)】鍵，再按【定量】鍵，曲線生效；若使曲線無(wú)效，重復(fù)上述步驟
五. 分貝dac曲線制作
1 標(biāo)度選擇：連按【標(biāo)度】鍵，使標(biāo)度為垂直（Y）
2 聲程調(diào)節(jié)：按【聲程】鍵，按【+】、【-】鍵，使聲程為50mm
3將探頭置于CSK-3A試塊上，掃描10mm深橫通孔，移動(dòng)探頭，使之為*高反射，按【增益】鍵，按【+/-】鍵調(diào)節(jié)增益，使波幅為40%，按【定量】鍵，按【+/-】鍵，將光標(biāo)移至10mm波峰上
4按【抑制】鍵2次，按【返回】鍵，再按【抑制】鍵，按【返回】鍵，直至屏幕顯示“分貝靈敏度"，按【1】鍵，按【確認(rèn)】鍵，按【返回】鍵，按【定量】鍵
5移動(dòng)探頭，掃描20mm深橫通孔，移動(dòng)探頭，使之為*高反射，按【增益】鍵，按【+】鍵調(diào)節(jié)增益，使波幅為40%，按【定量】鍵，按【+/-】鍵，將光標(biāo)移至20mm波峰上
6按【抑制】鍵，按【2】鍵，按【確認(rèn)】鍵，按【返回】鍵，按【定量】鍵；
7移動(dòng)探頭，掃描30mm深橫通孔，移動(dòng)探頭，使之為*高反射，按【增益】鍵，按【+】鍵調(diào)節(jié)增益，使波幅為40%，按【定量】鍵，按【+/-】鍵，將光標(biāo)移至30mm波峰上
8按【抑制】鍵，按【3】鍵，按【確認(rèn)】鍵，按【返回】鍵，按【定量】鍵
9重復(fù)上述步驟，直至所有點(diǎn)都采集完畢，按【輔助】鍵，按【3】鍵，按【確認(rèn)】鍵，按【返回】，分貝dac曲線制作完畢；使用該功能時(shí)，按【定量】鍵，按【+/-】鍵，移動(dòng)光標(biāo)至缺陷波上，按【輔助】鍵，按【3】鍵，按【確認(rèn)】鍵，當(dāng)量即顯示在屏幕上，按【返回】，按【定量】鍵，退出凍結(jié)狀態(tài)。注意：分貝dac曲線不顯示在屏幕上，只有輔助定量時(shí)才被顯示，有時(shí)屏幕上滯留曲線，按兩次【通道】鍵，即能消除
六， 輔助功能
1 表面補(bǔ)償：按【參考增益】鍵，按【+】鍵，補(bǔ)償由于表面粗糙或耦合不好所造成的聲能衰減
2閘門峰值跟蹤顯示：按【通道】鍵，直至出現(xiàn)主菜單，按【2】鍵，按【確認(rèn)】鍵，按【+】、【-】鍵選擇“DAC"，按【返回】鍵，退回主菜單（注意：使用該功能時(shí)，必須打開(kāi)報(bào)警閘門，使閘門罩在波形上）
3閘門選擇：在主菜單狀態(tài)下，按【7】鍵，按【確認(rèn)】鍵，光標(biāo)閃爍，按【+】、【-】鍵選擇進(jìn)波門或失波門，按【確認(rèn)】鍵，按【返回】鍵，退回主菜單
4工件設(shè)定：在主菜單狀態(tài)下，按【4】鍵，按【確認(rèn)】鍵，光標(biāo)閃爍，按【+】、【-】鍵選擇“焊縫"，按【確認(rèn)】鍵，按【2】鍵，光標(biāo)移至“參數(shù)設(shè)定"，按【確認(rèn)】鍵可設(shè)定焊縫參數(shù)，其中“板厚"數(shù)據(jù)跟部分標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)聯(lián)，必須設(shè)置該參數(shù)，按【返回】鍵3次，退回探傷狀態(tài)
七 現(xiàn)場(chǎng)探傷
1開(kāi)機(jī)后，選擇通道號(hào)，調(diào)出dac曲線，將標(biāo)度設(shè)置成垂直（Y），設(shè)置表面補(bǔ)償dB數(shù)，打開(kāi)閘門，如需要顯示焊縫，請(qǐng)?jiān)谥鞑藛沃性O(shè)置焊縫參數(shù)
2找到缺陷后，按【定量】鍵，按【+】、【-】鍵移動(dòng)光標(biāo)至缺陷波上，可讀出當(dāng)前波的距離值、水平值、深度值、波幅值、DAC偏移量
3 按【輔助】鍵，可計(jì)算出缺陷的深度及偏移定量線dB數(shù)（SL±XdB）,輸入探頭距離，還可直接看出缺陷在寒風(fēng)中的位置
4按【記錄】鍵，按【2】鍵，輸入文件號(hào)后，按【確認(rèn)】鍵，當(dāng)前文件存儲(chǔ)完畢，按【返回】鍵，按【定量】鍵，退出凍結(jié)狀態(tài)，可繼續(xù)探傷
八 文件處理
1打?。侯A(yù)先連接好打印機(jī)，打開(kāi)探傷儀，到主菜單里設(shè)置打印機(jī)，按【記錄】鍵，按【2】鍵，按【確認(rèn)】鍵，按【+】鍵，選擇需要打印的文件，按【定量】鍵，按【記錄】鍵，按【1】鍵，完成打印
2通訊：預(yù)先連接好電腦，在電腦里安裝通訊軟件，打開(kāi)探傷儀，按【定量】鍵，按【記錄】鍵，按【3】鍵，然后在電腦里操作即可完成數(shù)據(jù)傳送
注： “ DAC補(bǔ)償"在鍛件探傷中的應(yīng)用
1、試塊：厚度分別為10mm、50mm、125mm
2、將直探頭及探頭線與儀器正確連接
3、開(kāi)機(jī)
4、選擇一個(gè)〖通道〗：以通道“2"為例，按【通道】鍵，再按【＋】／【－】調(diào)節(jié)，使通道顯示為“2"
5、校準(zhǔn)〖始波偏移〗：按【始偏】鍵，再按【確認(rèn)】鍵，然后按照屏幕提示操作
6、校準(zhǔn)〖聲速〗：按【聲速】鍵，再按【確認(rèn)】鍵，然后按照屏幕提示操作
7、將〖K值〗調(diào)零：按【K值】鍵，按【－】鍵，使〖K值〗為零
8、報(bào)警〖門〗設(shè)置：將【門高】調(diào)至80%，【門位】調(diào)至始波之后，【門寬】調(diào)至第十格
9、〖聲程〗調(diào)節(jié)：將探頭置于“125mm"試塊上，按【聲程】鍵，按【＋】／【－】鍵，使一次波位于第十格
10、〖增益〗調(diào)節(jié)：將探頭置于“10mm"試塊上，按【增益】鍵，按【＋】／【－】鍵，使一次波波峰位于80%處
11、【包絡(luò)】鍵，按【確認(rèn)】鍵，按【－】鍵移動(dòng)光標(biāo)至“10mm"波峰上，按【＋】鍵采集該點(diǎn)
12、探頭置于“50mm"試塊上，按【－】鍵移動(dòng)光標(biāo)至“50mm"波峰上，按【＋】鍵采集該點(diǎn)
13、 置于“125mm"試塊上，按【－】鍵移動(dòng)光標(biāo)至“125mm"波峰上，按【＋】鍵采集該點(diǎn)
14、【確認(rèn)】鍵，采樣結(jié)束
15、參考增益】鍵，再按【確認(rèn)】鍵，屏幕顯示〖-D-〗,至此，“DAC補(bǔ)償"功能開(kāi)始工作，如需退出該功能，再按【確認(rèn)】鍵即可
焊縫探傷操作流程
一. 準(zhǔn)備工作
1 試塊：CSK-1A,CSK-3A
2 探頭線：Q9接口
3 探頭：斜探頭/K2/2.5p
二 設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)
1 開(kāi)機(jī)：按動(dòng)開(kāi)關(guān)，然后按【確認(rèn)】鍵
2 選擇通道:按【通道】鍵,按【+】、【-】鍵,選擇通道
3選擇標(biāo)準(zhǔn):按【通道】鍵,彈出主菜單后按【3】鍵,按【確認(rèn)】鍵,彈出標(biāo)準(zhǔn)選擇子菜單,按【數(shù)字】鍵,選擇相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn),若無(wú)標(biāo)準(zhǔn)可選,按【6】鍵,按【確認(rèn)】鍵,進(jìn)入自設(shè)置標(biāo)準(zhǔn),設(shè)置完畢按【返回】鍵,退回主菜單
4dac方式：在主菜單狀態(tài)下，按【+】鍵，按【確認(rèn)】鍵2次，按【+】、【-】鍵，可選擇“光滑或點(diǎn)接"，按【返回】鍵2次，退回探傷狀態(tài)
三. 調(diào)試
1 將探頭置于CSK-1A試塊上，掃描R50、R100半圓
2 調(diào)節(jié)聲程：按【聲程】鍵，按【+】、【-】鍵，使R50、R100反射波出現(xiàn)在屏幕上
3 調(diào)節(jié)增益：按【增益】鍵，按【+】、【-】鍵，將R50、R100反射波幅調(diào)至50%處
4 移動(dòng)探頭，使R50、R100反射波為*高
5 始波偏移測(cè)試：按【始偏】鍵，按【確認(rèn)】鍵，然后根據(jù)屏幕提示操作
6 聲速測(cè)試：按【聲速】鍵，按【確認(rèn)】鍵，然后根據(jù)屏幕提示操作
7K值測(cè)試：將試塊翻轉(zhuǎn)過(guò)來(lái)，掃描深度為15mm橫通孔，調(diào)節(jié)增益，使波幅達(dá)到50%以上（注意：不能調(diào)節(jié)聲程，聲程拉得太開(kāi)，可能造成測(cè)試錯(cuò)誤），按【K值】鍵，按【確認(rèn)】鍵，然后根據(jù)屏幕提示操作
四. dac曲線制作
1 標(biāo)度選擇：連按【標(biāo)度】鍵，使標(biāo)度為垂直（Y）
2 聲程調(diào)節(jié)：按【聲程】鍵，按【+】、【-】鍵，使聲程為50mm
3 將探頭置于CSK-3A試塊上，掃描10mm深橫通孔，使波幅*高，調(diào)節(jié)增益，使波幅在80%-90%之間
4 按【包絡(luò)】鍵，直至屏幕提示“包絡(luò)/波形"，按【確認(rèn)】鍵，波形凍結(jié)，按【-】鍵移動(dòng)光標(biāo)，按【+】鍵采集該點(diǎn)
5 移動(dòng)探頭，掃描30mm深橫通孔，使包絡(luò)波形*高，按【-】鍵移動(dòng)光標(biāo)，按【+】鍵采集該點(diǎn)
6 移動(dòng)探頭，掃描40mm深橫通孔，使包絡(luò)波形*高，按【-】鍵移動(dòng)光標(biāo)，按【+】鍵采集該點(diǎn)
7 所有點(diǎn)都采集完畢之后，按【確認(rèn)】鍵，完成曲線制作
8 按【定量】鍵，按【確認(rèn)】鍵，再按【定量】鍵，曲線生效；若使曲線無(wú)效，重復(fù)上述步驟
五. 分貝dac曲線制作
1 標(biāo)度選擇：連按【標(biāo)度】鍵，使標(biāo)度為垂直（Y）
2 聲程調(diào)節(jié)：按【聲程】鍵，按【+】、【-】鍵，使聲程為50mm
3將探頭置于CSK-3A試塊上，掃描10mm深橫通孔，移動(dòng)探頭，使之為*高反射，按【增益】鍵，按【+/-】鍵調(diào)節(jié)增益，使波幅為40%，按【定量】鍵，按【+/-】鍵，將光標(biāo)移至10mm波峰上
4按【抑制】鍵2次，按【返回】鍵，再按【抑制】鍵，按【返回】鍵，直至屏幕顯示“分貝靈敏度"，按【1】鍵，按【確認(rèn)】鍵，按【返回】鍵，按【定量】鍵
5移動(dòng)探頭，掃描20mm深橫通孔，移動(dòng)探頭，使之為*高反射，按【增益】鍵，按【+】鍵調(diào)節(jié)增益，使波幅為40%，按【定量】鍵，按【+/-】鍵，將光標(biāo)移至20mm波峰上
6按【抑制】鍵，按【2】鍵，按【確認(rèn)】鍵，按【返回】鍵，按【定量】鍵；
7移動(dòng)探頭，掃描30mm深橫通孔，移動(dòng)探頭，使之為*高反射，按【增益】鍵，按【+】鍵調(diào)節(jié)增益，使波幅為40%，按【定量】鍵，按【+/-】鍵，將光標(biāo)移至30mm波峰上
8按【抑制】鍵，按【3】鍵，按【確認(rèn)】鍵，按【返回】鍵，按【定量】鍵
9重復(fù)上述步驟，直至所有點(diǎn)都采集完畢，按【輔助】鍵，按【3】鍵，按【確認(rèn)】鍵，按【返回】，分貝dac曲線制作完畢；使用該功能時(shí)，按【定量】鍵，按【+/-】鍵，移動(dòng)光標(biāo)至缺陷波上，按【輔助】鍵，按【3】鍵，按【確認(rèn)】鍵，當(dāng)量即顯示在屏幕上，按【返回】，按【定量】鍵，退出凍結(jié)狀態(tài)。注意：分貝dac曲線不顯示在屏幕上，只有輔助定量時(shí)才被顯示，有時(shí)屏幕上滯留曲線，按兩次【通道】鍵，即能消除
六， 輔助功能
1 表面補(bǔ)償：按【參考增益】鍵，按【+】鍵，補(bǔ)償由于表面粗糙或耦合不好所造成的聲能衰減
2閘門峰值跟蹤顯示：按【通道】鍵，直至出現(xiàn)主菜單，按【2】鍵，按【確認(rèn)】鍵，按【+】、【-】鍵選擇“DAC"，按【返回】鍵，退回主菜單（注意：使用該功能時(shí)，必須打開(kāi)報(bào)警閘門，使閘門罩在波形上）
3閘門選擇：在主菜單狀態(tài)下，按【7】鍵，按【確認(rèn)】鍵，光標(biāo)閃爍，按【+】、【-】鍵選擇進(jìn)波門或失波門，按【確認(rèn)】鍵，按【返回】鍵，退回主菜單
4工件設(shè)定：在主菜單狀態(tài)下，按【4】鍵，按【確認(rèn)】鍵，光標(biāo)閃爍，按【+】、【-】鍵選擇“焊縫"，按【確認(rèn)】鍵，按【2】鍵，光標(biāo)移至“參數(shù)設(shè)定"，按【確認(rèn)】鍵可設(shè)定焊縫參數(shù)，其中“板厚"數(shù)據(jù)跟部分標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)聯(lián)，必須設(shè)置該參數(shù)，按【返回】鍵3次，退回探傷狀態(tài)
七 現(xiàn)場(chǎng)探傷
1開(kāi)機(jī)后，選擇通道號(hào)，調(diào)出dac曲線，將標(biāo)度設(shè)置成垂直（Y），設(shè)置表面補(bǔ)償dB數(shù)，打開(kāi)閘門，如需要顯示焊縫，請(qǐng)?jiān)谥鞑藛沃性O(shè)置焊縫參數(shù)
2找到缺陷后，按【定量】鍵，按【+】、【-】鍵移動(dòng)光標(biāo)至缺陷波上，可讀出當(dāng)前波的距離值、水平值、深度值、波幅值、DAC偏移量
3 按【輔助】鍵，可計(jì)算出缺陷的深度及偏移定量線dB數(shù)（SL±XdB）,輸入探頭距離，還可直接看出缺陷在寒風(fēng)中的位置
4按【記錄】鍵，按【2】鍵，輸入文件號(hào)后，按【確認(rèn)】鍵，當(dāng)前文件存儲(chǔ)完畢，按【返回】鍵，按【定量】鍵，退出凍結(jié)狀態(tài)，可繼續(xù)探傷
八 文件處理
1打?。侯A(yù)先連接好打印機(jī)，打開(kāi)探傷儀，到主菜單里設(shè)置打印機(jī)，按【記錄】鍵，按【2】鍵，按【確認(rèn)】鍵，按【+】鍵，選擇需要打印的文件，按【定量】鍵，按【記錄】鍵，按【1】鍵，完成打印
2通訊：預(yù)先連接好電腦，在電腦里安裝通訊軟件，打開(kāi)探傷儀，按【定量】鍵，按【記錄】鍵，按【3】鍵，然后在電腦里操作即可完成數(shù)據(jù)傳送
注： “ DAC補(bǔ)償"在鍛件探傷中的應(yīng)用
1、試塊：厚度分別為10mm、50mm、125mm
2、將直探頭及探頭線與儀器正確連接
3、開(kāi)機(jī)
4、選擇一個(gè)〖通道〗：以通道“2"為例，按【通道】鍵，再按【＋】／【－】調(diào)節(jié)，使通道顯示為“2"
5、校準(zhǔn)〖始波偏移〗：按【始偏】鍵，再按【確認(rèn)】鍵，然后按照屏幕提示操作
6、校準(zhǔn)〖聲速〗：按【聲速】鍵，再按【確認(rèn)】鍵，然后按照屏幕提示操作
7、將〖K值〗調(diào)零：按【K值】鍵，按【－】鍵，使〖K值〗為零
8、報(bào)警〖門〗設(shè)置：將【門高】調(diào)至80%，【門位】調(diào)至始波之后，【門寬】調(diào)至第十格
9、〖聲程〗調(diào)節(jié)：將探頭置于“125mm"試塊上，按【聲程】鍵，按【＋】／【－】鍵，使一次波位于第十格
10、〖增益〗調(diào)節(jié)：將探頭置于“10mm"試塊上，按【增益】鍵，按【＋】／【－】鍵，使一次波波峰位于80%處
11、【包絡(luò)】鍵，按【確認(rèn)】鍵，按【－】鍵移動(dòng)光標(biāo)至“10mm"波峰上，按【＋】鍵采集該點(diǎn)
12、探頭置于“50mm"試塊上，按【－】鍵移動(dòng)光標(biāo)至“50mm"波峰上，按【＋】鍵采集該點(diǎn)
13、 置于“125mm"試塊上，按【－】鍵移動(dòng)光標(biāo)至“125mm"波峰上，按【＋】鍵采集該點(diǎn)
14、【確認(rèn)】鍵，采樣結(jié)束
15、參考增益】鍵，再按【確認(rèn)】鍵，屏幕顯示〖-D-〗,至此，“DAC補(bǔ)償"功能開(kāi)始工作，如需退出該功能，再按【確認(rèn)】鍵即可
