4、電波暗室設(shè)計技術(shù)   為了建造符合場地衰減要求的SAC，測量到的歸一化場地衰減數(shù)值與理想開闊場（依據(jù)標準ANSIC63.4－1992）的理想值的差值應(yīng)小于4dB。這項指標面臨著許多挑戰(zhàn)，特別在低頻段，吸波材料的電場尺寸很小，而且電磁性能很差。所以，在電波暗室建造之前，需要用數(shù)字仿真，以確認和優(yōu)化電波暗室的設(shè)計。制造者可以選擇嘗試方法來設(shè)計，但這會消耗許多時間和成本。數(shù)字仿真，通過與已建造的暗室的性能測量數(shù)據(jù)的修正相結(jié)合，是今天的電波暗室的設(shè)計者的一種有效的設(shè)計工具。   在工作頻率范圍的中段和高段，入射到吸波材料的電磁波可以被認為是平面波。在這種情況下，利用射線跟蹤的方法來模擬電波暗室的性能，會得到一個可信的有關(guān)電波暗室性能的推算。而對于低頻情況，平面波的假設(shè)不再有效。   對于低頻范圍，有關(guān)電波暗室的性能模型有兩種方法：一種是對高頻情況下的射線跟蹤技術(shù)的模擬，另一種是對裝有吸波材料的屏蔽室進行三維情況下的麥克斯韋方程的解算。在射線跟蹤的情況下，由于吸波材料的低頻性能以及電波暗室的尺寸，必須考慮多重反射。由于低頻段的吸波材料的測試數(shù)據(jù)在任意角度入射要比垂直情況難以測量，所以數(shù)字仿真數(shù)據(jù)常被使用。要注意的是這種模擬的吸波材料性能數(shù)據(jù)與垂直入射的測量數(shù)據(jù)緊密相關(guān)，以避免在電波暗室仿真中的系統(tǒng)誤差。在多級射線跟蹤模型中，測量的10m電波暗室的性能模擬要比3m電波暗室的好，這是由于在10m電波暗室中電空間足夠大，采用的吸波材料體積大，低段性能好。   由于求解三維麥克斯韋方程是一項深入細致的計算任務(wù)，所以通常使用有限元法或有限差分法。這些方法是將需要運算的空間分成離散的單元，以便使用麥克斯韋方程進行運算，對于低頻段的情況，吸波材料近似為低頻薄層，可以減輕計算的難度。然而，這種算法的**性很大程度依靠吸波材料模型的使用，吸波材料性能的測試和大量的數(shù)據(jù)。在理論上，這種方法比射線跟蹤法**、可靠。然而，與多級射線技術(shù)相比，吸波材料的安裝和電波暗室測量的限制導(dǎo)致實現(xiàn)過程中的不確定性，同時也使實際設(shè)計的精度有所限制。

5、試驗室的建造   在以上的幾個部分，我們對幾個主要問題進行了介紹，包括SAC的設(shè)計、屏蔽效能、吸波材料和電波暗室模型。這一部分集中討論這些方面的整體實施。   多級反射射線跟蹤方法具在方便計算的優(yōu)勢。應(yīng)用這種技術(shù)，設(shè)計者可以從眾多的設(shè)計草案中選取優(yōu)化設(shè)計。一個有經(jīng)驗的設(shè)計工程師可以通過分析整理數(shù)據(jù)來保證電波暗室的性能，而不用考慮模型化技術(shù)的固有限制。

   在建造EMC測試試驗室時，需要相當(dāng)大的空間來容納電波暗室和相關(guān)的設(shè)備。典型的設(shè)計尺寸如表3。除了表3給出的數(shù)據(jù)，我們還要考慮防火設(shè)施、高架地板、加固屏蔽室的使其能夠負荷吸波材料的質(zhì)量、保證其完整性的鋼結(jié)構(gòu)。

表3 半波暗室參數(shù)

         在SAC以及相關(guān)設(shè)備建造結(jié)束后，要驗證其性能，以證實用SAC替代理想的OATS是可行的。在民有EMC設(shè)施中，SAC性能測試依照標準ANSIC63.4－1992、CISPR22或相關(guān)標準所描述的替代場方法。這些測試程序是通過比較電波暗室與OATS的場地衰減來證實電波暗室的性能的。場地衰減是按照標準中對于替代場所描述的理論，測量位于轉(zhuǎn)臺上一個靜止的圍繞EUT的區(qū)域。這個測試程序的頻率范圍是根據(jù)輻射發(fā)射對EUT測試的要求確定的。在*初的驗證確定后，SAC 的操作應(yīng)建立在每年的驗證基礎(chǔ)上。   SAC的性能依靠許多因素，其一是吸波材料的安裝。鐵氧體貼片的氣縫效應(yīng)要格外注意，特別是在門和其他穿孔的地方，那里的吸波材料是不連續(xù)的。門、接口板和窗的安排也要小心。注意不要在吸波材料不連續(xù)的地方引起性能問題，不要出現(xiàn)未經(jīng)處理的反射物質(zhì)引起的寄生的反射和發(fā)射。另外，地板要非常平，轉(zhuǎn)臺周圍要保證電連續(xù)性。驗證電波暗室時，天線系數(shù)起著嚴格的作用。另外，時間久了，吸波材料、尤其是尖劈泡沫會傾斜，在性能上影響較小，但有些負面的效應(yīng)。   一個重要的問題是選擇吸波材料或暗室的制造者時一定要有質(zhì)量控制。由于吸波材料性能是　SAC的電磁性能中*重要的因素，要注意制造商能否保證工廠里生產(chǎn)的每一批吸波材料的性能都是一致的。*好要有一個質(zhì)量控制程序，以保證每一批吸波材料的電磁性能都在低頻范圍內(nèi)進行嚴格的檢測。而且，電波暗室的性能與吸波材料的安裝質(zhì)量相關(guān)，所以，在安裝中安排有經(jīng)驗的人員控制質(zhì)量是必須遵循的。   一般來說，EMC測試設(shè)備不僅僅是SAC。按預(yù)算和實驗的需要，可以增加屏蔽的控制室和實驗室，同樣可增加測量抗擾度的全電波暗室和預(yù)測試電波暗室。*低限度，要有足夠的空間來容納測試設(shè)備和測試人員。

  6、總結(jié)   本文談到建造SAC中的概況，但它不能完全涉及到建造SAC的所有問題。一些重要的問題，如防火**和結(jié)構(gòu)完整性都需要進一步研究?？傊?，建造SAC不是一項簡單的任務(wù)，有大量的因素影響SAC的電磁性能能和功能。特別對于全適應(yīng)電波暗室，對于3m或10m的測試距離，質(zhì)量控制、設(shè)計能力和已有工作業(yè)績都在選擇電波暗室生產(chǎn)家方面起著重要的作用。而且，成功的操作EMC設(shè)備與測試附屬設(shè)備（轉(zhuǎn)臺、天線桿、天線、電纜）和測量儀器的使用有關(guān)，同時，試驗人員的經(jīng)驗也很重要。