集成電路產(chǎn)品EMC測試系統(tǒng)是嚴(yán)格按照IEC 61967和IEC 62132系列進(jìn)行設(shè)計，整套系統(tǒng)的功能和性能不僅能夠滿足上述兩大類標(biāo)準(zhǔn)要求的測試項目。而且在系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)具有**性、實踐可行性，滿足各類集成電路模塊、各類存儲芯片、各類電源管理芯片、各類接口芯片、各類時鐘芯片以及運(yùn)放等。

集成電路產(chǎn)品EMC測試系統(tǒng)的測試項目有：EMI類、EMS類。
 
EMI類：依據(jù)IEC 61967系列標(biāo)準(zhǔn)；
 
TEM小室法—輻射發(fā)射測試；
 
表面掃描法—輻射發(fā)射測試；
 
1Ω/150Ω直接耦合法—傳導(dǎo)發(fā)射測試；
 
EMS類（頻域）：依據(jù)IEC62132系列與IEC 62215系列標(biāo)準(zhǔn)；

TEM小室法—輻射敏感度測試；
 
大電流注入法—傳導(dǎo)敏感度測試；
 
直接功率注入法—傳導(dǎo)敏感度測試；
 
電快速脈沖群（EFT）注入法—傳導(dǎo)敏感度測試；
 
靜電放電（ESD）注入法—傳導(dǎo)敏感度測試；
 
TEM小室法—輻射發(fā)射測試的測試目的：在150kHz~1GHz內(nèi)測試IC輻射發(fā)射。適用于封裝/片內(nèi)去耦/引腳分布等的優(yōu)劣判別，測試要滿足以下條件。
 
測試布置：

使用TEM小室作為接收傳感器，然后使用EMI測試接收機(jī)/頻譜儀進(jìn)行測量。
 
測試方法：

為了保證重復(fù)性，環(huán)境溫度保持于18℃～28℃；測試環(huán)境的背景電磁噪聲至少低于*低極限線值6dB；在測試之前，集成電路應(yīng)使用適當(dāng)?shù)某绦蚣虞d并處于穩(wěn)定狀態(tài)；待測集成電路的供電特性應(yīng)符合集成電路制造商要求。
 
測試步驟：
 
**步：按測試布置進(jìn)行環(huán)境溫度及背景電磁噪聲測試，此時待IC不上電；
 
第 二步：待測IC上電，并進(jìn)行功能測試，需要對IC的軟件加載，并一直到其處于穩(wěn)定狀態(tài)；
 
第三步：對待測IC進(jìn)行輻射發(fā)射測量；
 
第四步：將待測IC與測試夾具旋轉(zhuǎn)90o，重復(fù)第三步測試，直至四個可能的方向均完成輻射發(fā)射測量。